Chroma 3160/3160F 4 site 終端測試分類機

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主要特色：

• 9K pcs 產能 (Model 3160)
• 彈性的矩陣測試及指紋圖形測試 (3160F)
• 1~10 Kgf 微型接觸力 (3160F)
• 1 x 4 DUT架構 (3160/3160F)
• 空載盤自動堆迭 (選購) (3160F)
• 可設定的待測物間距
• 可側邊安裝測試機
• 可編程氣動式阻尼器控制，以減少接觸力的影響響
• 智慧型IC殘留檢測
• 測試良率控制
• 通用治具
• 進階版ESD標準

3160系列是一系列適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此系列分類機運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝類型并按照測試結果將它們排序分類予分料盤中。其高效率的模組化設計與精準的機構傳動結構可確保在高速運作下，機臺量測之重復性，并有助于增加機臺使用之穩定性與維護之便利性。此外，其簡潔的機臺設計更可節省機臺于測試廠之占地面積，幫助客戶大幅降低生產成本。3160F則可依其待測物 (指紋辨識芯片) 的不同需求，修改測試條件及程序。

3160系列具備高可靠性的處理機制可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產治具相容，順暢的自動化技術滿足高產能和低Jam Rate的量產要求。此外，可調式的壓測力和位置校正以及各種感應裝置可降低待測物發生突如其來的損壞，和幫助延長socket的使用期，同時保持或提升產能的良率。

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